環(huán)境測試 產(chǎn)品在使用過程中，有不同的使用環(huán)境(有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等)，會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力(有些受到風(fēng)吹雨濕、有些受到振動(dòng)與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等)；為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，G標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測試項(xiàng)目，這些測試項(xiàng)目包括：
1、高溫測試(高溫運(yùn)行、高溫貯存)；
2、低溫測試(低溫運(yùn)行、低溫貯存)；
3、高低溫交變測試(溫度循環(huán)測試、熱沖擊測試)；
4、高溫高濕測試(濕熱貯存、濕熱循環(huán))；
5、機(jī)械振動(dòng)測試(隨機(jī)振動(dòng)測試、掃頻振動(dòng)測試)；
6、汽車運(yùn)輸測試(模擬運(yùn)輸測試、碰撞測試)；
7、機(jī)械沖擊測試；
8、開關(guān)電測試；
9、電源拉偏測試；
10、冷啟動(dòng)測試；
11、鹽霧測試；
12、淋雨測試；
13、塵砂測試；
上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)G家標(biāo)準(zhǔn)如下(部分試驗(yàn)可能沒有相關(guān)G標(biāo)，或者是還沒有找到)：
1、低溫試驗(yàn) 按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》； GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗(yàn) 按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》； GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。 溫度范圍：10℃～210℃
3、濕熱試驗(yàn) 按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》； GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》 進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。 濕度范圍：30%RH～100%RH
4、霉菌試驗(yàn) 按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法長霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。
5、鹽霧試驗(yàn) 按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。
6、低氣壓試驗(yàn) 按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》； GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》； GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》； 進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動(dòng)試驗(yàn) 按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。 頻率范圍(機(jī)械振動(dòng)臺(tái))：5～60Hz(定頻振動(dòng)5～80Hz)，**大位移振幅3.5mm(滿載)。頻率范圍(電磁振動(dòng)臺(tái))：5～3000Hz，**大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗(yàn) 按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍：(50～1500)m/s2。
9、碰撞試驗(yàn) 按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。 10、跌落試驗(yàn) 按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》； GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn) 三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
